在實(shí)際的電樞轉(zhuǎn)子生產(chǎn)過程中，因各種原因，電樞轉(zhuǎn)子會出現(xiàn)虛焊、短路、斷路等問題，產(chǎn)生電樞轉(zhuǎn)子不良品，若這些不良品混在合格品中出廠，應(yīng)用過程中會造成電機(jī)不良等一系列問題，影響廠家產(chǎn)品質(zhì)量口碑，在這里介紹一種電樞轉(zhuǎn)子測試方案，對電樞轉(zhuǎn)子電氣性進(jìn)行測試。

這里介紹的電樞轉(zhuǎn)子測試方案是使用電樞轉(zhuǎn)子測試設(shè)備進(jìn)行測試。

一、電樞轉(zhuǎn)子測試項(xiàng)目

電樞轉(zhuǎn)子電氣性能測試的是電阻和耐壓，其中電阻是測試焊接電阻（電樞的虛焊情況）、片間和跨間電阻（電樞換向片間的電阻）；耐壓是測試匝間耐壓（換向片間的沖擊電壓）、交流耐壓（電樞換向片中是否存在絕緣不良或短路現(xiàn)象）。

上述中的焊接電阻測試是評估電樞測試設(shè)備性能優(yōu)劣的重要依據(jù)。

二、電樞轉(zhuǎn)子測試過程

使用電樞轉(zhuǎn)子測試設(shè)備對電樞轉(zhuǎn)子測試十分簡單。

1、將電樞轉(zhuǎn)子放置在設(shè)備工裝臺上，電樞夾頭工裝可自動夾緊電樞轉(zhuǎn)子。

2、滑動工裝臺上方滑罩進(jìn)行自動測試。測試設(shè)備對電樞進(jìn)行測試是將電樞夾頭工裝內(nèi)部的測試針頂在換向片上，測試針在換向片上距離掛鉤位置的一定距離，換向片的電阻值一般是μΩ級別，因此改變測試針與掛鉤間的距離會使電阻測試值有μΩ級的變化，可以得到測試電阻值。

3、電樞測試設(shè)備得到測試結(jié)果。

測試結(jié)果界面中，測試項(xiàng)目的合格范圍可在后臺設(shè)置，測試結(jié)果以數(shù)據(jù)及曲線方式顯示，更加直觀；其中片間電阻、焊接電阻、跨間電阻及匝間測試數(shù)值直接顯示在界面中，可看出焊接電阻值在0.024-0.027mΩ（差距3μΩ），其焊接阻值均在合理范圍內(nèi)。

在測試結(jié)果右邊欄最上方環(huán)狀圖案，可體現(xiàn)電樞轉(zhuǎn)子各換向片是否合格，合格為綠色?？梢燥@示該電樞轉(zhuǎn)子有14片換向片，順時(shí)針方向測試，測試時(shí)間為5.369s，測試速度高速準(zhǔn)確。

三、電樞轉(zhuǎn)子測試設(shè)備優(yōu)點(diǎn)

1、適配多種電樞轉(zhuǎn)子，一臺抵多臺，降低設(shè)備成本。

電樞轉(zhuǎn)子品類繁多，但其結(jié)構(gòu)均由換向片、鐵芯及繞組組成，因此其測試項(xiàng)目大同小異，在單臺電樞轉(zhuǎn)子測試設(shè)備中配套多種電樞夾頭工裝，主機(jī)后臺調(diào)整測試項(xiàng)目上下限，即可滿足不同種類電樞轉(zhuǎn)子測試需求，降低設(shè)備購置成本；

2、操作簡單。

電樞轉(zhuǎn)子測試設(shè)備測試方式簡單，電樞人工放置操作及設(shè)備自動測試過程可控制在6s內(nèi)，極大程度提高測試效率；

3、開機(jī)自檢、遠(yuǎn)程維護(hù)。

為保障每日電機(jī)測試正常運(yùn)行，所有電樞轉(zhuǎn)子測試設(shè)備內(nèi)置開機(jī)自檢程序，每次開機(jī)時(shí)設(shè)備自行檢測是否正常，若出現(xiàn)問題可進(jìn)行遠(yuǎn)程故障排查及更新，各功能模塊獨(dú)立運(yùn)行，單獨(dú)工作不受其他功能影響，極大程度確保每日工作正常進(jìn)行，不耽誤出貨。

4、支持?jǐn)?shù)據(jù)共享，減少售后排查時(shí)間。

電樞測試設(shè)備與互聯(lián)網(wǎng)聯(lián)通同時(shí)可對接MES系統(tǒng)，時(shí)間數(shù)據(jù)交互共享，測試數(shù)據(jù)可上傳服務(wù)器，按日期存儲，后續(xù)出現(xiàn)售后問題時(shí)查詢測試數(shù)據(jù)方便，便于排查產(chǎn)品問題。

艾普智能專注全球電機(jī)測試，想客戶之所想，急客戶之所需，根據(jù)客戶需要針對性定制切合電機(jī)產(chǎn)品的測試設(shè)備，努力提高測試效率降低用戶使用成本，更多電樞轉(zhuǎn)子測試設(shè)備可在官網(wǎng)中查閱，聯(lián)系我們免費(fèi)提供電機(jī)測試方案！

本文由專注全球電機(jī)測試的艾普智能原創(chuàng)編寫，版權(quán)所有，侵權(quán)必究，轉(zhuǎn)載請注明出處。